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製　品 分析走査電子顕微鏡
メーカー FEI
型　番 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-QuantA400HV 年 式 2008年12月
価　格 お問合せ 参　考 53,113,000
仕　様 分解能:高真空:3.5nm 30KV.低真空:3.5nm　30kv.15nm　3KV
試料室真空度:10-4Pa〜2600Pa
加速電圧:200V〜30KV
倍率:x6〜x1000000
試料交換:ﾄﾞﾛ-ｱｳﾄ方式
試料室:内径280mm
ｽﾃ-ｼﾞ:5軸ﾓ-ﾀ駆動.X-Y:100mmx100mm.傾斜:-5〜+70°(自動)
　　　　　　　　.Z:60mm.回転:360°



点検整備中
  本体:Quanta400HV
　加速電圧:200V〜30KV.分解能:3.5nm(30KV)
　5軸ﾓ-ﾀ-ﾄﾞﾗｲﾌﾞｽﾃ-ｼﾞ:100x100mm
　試料ﾎﾙﾀﾞ-:TMA排気ｼｽﾃﾑ.SEM制御陽ｿﾌﾄ:制御用PC(OS:WindowsXP)
ｴﾈﾙｷﾞ分散型X線分析装置:GSRﾊﾟｯｹ-ｼﾞ
　ｴﾈﾙｷﾞ-分散型X線分析装置
　Si(Li)検出器:EDAX　UTW検出器
　ﾃﾞｼﾞﾀﾙﾊﾟﾙｽﾌﾟﾛｾｯｻ-
備　考
  点検整備中
ジャンル [05.電子顕微鏡] [05-2.EDX付SEM]　該当：2件
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分析走査電子顕微鏡

X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-

  
▼ 管理番号 DK0040 DK0084
△ 製 品 名 分析走査電子顕微鏡 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-
△ 型    番 X線ﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ-QuantA400HV Quanta400
△ メーカー FEI ｻ-ﾓﾌｨｼｬ-(FEI)
価  格 お問合せ お問合せ
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