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SOLD OUT
(完売しました)

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管理番号 DK0097
製 品 卓上電子顕微鏡
メーカー 日立ハイテク
型 番 TM-3030+EDX 年 式 2013年 月
価 格 お問合せ 参 考 -
仕 様 倍率:15〜60000倍(デジタルズ-ム使用時:x240000).観察倍率x15〜x3万
観察条件設定:表面/通常/高輝度
観察モ-ド:標準モ-ド/帯電軽減モ-ド
最大試料寸法:φ70mm/50mmh
画像メモリ画素:640x480画素.1280x960画素
画像デ-タ保存:PC内HDD
画像形式:BMP.TIFF.JPEG
デ-タ表示:ミクロンマ-カ-.ミクロン値.倍率.日付.時間.画像No.コメント入力.
    :観察条件.観察モ-ト@.画像モ-ド
外寸/重量:330x606x565h/63.0kg
EDX分析範囲:B5〜U92
  :エネルギ-分散型
  本体:TM-3030
 EDX付







備 考
 
ジャンル [05.電子顕微鏡] 該当:17件
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リアルカラ-コンフォ-カル(共焦点)顕微鏡

研磨器

卓上SEM

イオンクリ-ナ-

フラトミ-リング装置

原子力間顕微鏡

走査型原子間力顕微鏡

分析走査電子顕微鏡

凍結真空乾燥装置

電子式試料凍結装置

 管理番号 018731 019139 023501 024881 024961 027885 DK0039 DK0040 DK0041 DK0062
 製 品 名 リアルカラ-コンフォ-カル(共焦点)顕微鏡 研磨器 卓上SEM イオンクリ-ナ- フラトミ-リング装置 原子力間顕微鏡 走査型原子間力顕微鏡 分析走査電子顕微鏡 凍結真空乾燥装置 電子式試料凍結装置
 型    番 OPTELICS C130 MetaServ250 TM-3030プラス JIC-410 E-3200 Dimention5 NANO-RJ X線マイクロアナライザ-QuantA400HV ES-2030 EF-20
 メーカー レ-ザ-テック ビュラ- 日立ハイテク 日本電子 日立ハイテク 日本ビ-コ パシフィックテクノロジ-(東陽テクニカ) FEI 日立ハイテク 日本ミクロト-ム研究所
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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カ-ボンコ-タ

X線マイクロアナライザ-

レ-ザ-スキャン顕微鏡

走査電子顕微鏡

レ-ザ-マイクロダイセクションシステム

レ-ザ-マイクロダイセクションシステム

セクショニング光学顕微鏡

 
 管理番号 DK0079 DK0084 DK0087 DK0091 KE0287 KE0300 KE0315
 製 品 名 カ-ボンコ-タ X線マイクロアナライザ- レ-ザ-スキャン顕微鏡 走査電子顕微鏡 レ-ザ-マイクロダイセクションシステム レ-ザ-マイクロダイセクションシステム セクショニング光学顕微鏡
 型    番 JEC-570 Quanta400 LSM-510ConfoCor3-APO SuperScan-550 PALM-MBV AS-LMD DeltaVisionCORE
 メーカー 日本電子 サ-モフィシャ-(FEI) ツアイス 島津製作所 ツアイス ライカ セキテクノトロン
価  格 お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ お問合せ
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